CARACTERIZACIÓN MORFOLÓGICA DE RECUBRIMIENTOS CERÁMICOS A TRAVÉS DE SEM

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- Montaje de la muestras y aplicación de vacío: Una vez recubiertas las muestras estas se montan en la cámara porta-muestras del equipo SEM ubicada en la base de la columna, luego se cierra el sistema y se aplica vacio, el vacio requerido por el análisis es alto vacio este es del orden 10-6 torr. Es necesario el alto vacio ya que el recorrido del haz de electrones es de aproximadamente 1 metro y se debe garantizar que no haya presencia de gases en la columna del microscopio que puedan dispersar el haz durante su recorrido.

- Realización del análisis y obtención de resultados: Una vez aplicado el alto vacio se enciende el cañón de electrones del equipo SEM, que se encarga de producir un haz de electrones mediante la aplicación de una deferencia de potencial o voltaje de aceleración (alrededor de 30KeV), una vez este haz primario de electrones incide e interactúa con la muestra, esta emite un haz de electrones secundario que es detectado por el sistema de detección del SEM.

Las imágenes tridimensionales se obtienen por la variación de emisión de electrones secundarios en función de las características topográficas de la muestra analizada, por ejemplo una protuberancia o ángulo agudo sobre la superficie generan una mayor emisión de electrones secundarios que una grieta, de este modo se puede interpretar una imagen de electrones como una imagen óptica.

- Análisis de resultados: Finalmente las imágenes obtenidas por el análisis SEM serán estudiadas para lograr identificar el tamaño y distribución de defectos en la estructura del recubrimiento y así poder determinar que composición será que da mejores resultados en la elaboración de estos recubrimientos.