Nanometrology of an ultraprecision machined surface by using optical sensors.

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La Metrología Óptica trata de hacer mediciones usando las propiedades de la luz, como la polarización, la fase y frecuencia.

La interferencia es un fenómeno propio de las oscilaciones, más que todo en las ondas sonaras en qué consiste que una fuente x con una fuente y, que están separadas a una distancia determinada, producen un sonido cuya onda tienen la misma o parecida frecuencia, las cuales chocan entre sí para producir así el patrón de interferencia. Con los patrones de interferencia podemos determinar la topografía, la reflectividad y la textura de los materiales con precisión de nanómetros.[2]

El sensor fibróptico contiene una fibra óptica conectada a una fuente de luz, a fin de facilitar la detección en espacios reducidos o cuando un perfil pequeño resulta conveniente. El sensor de fibra óptica puede medir la redondez así como también la rugosidad superficial de un cono.

A diferencia del principio de medición del Sensor de fibra óptica, el microinterferómetro láser analiza el cambio de interferencias para evaluar el cambio de distancia entre el microinterferómetro láser y el objeto de medición,

Que se compone de una franja brillante causada por la interferencia constructiva y una franja oscura causada por la interferencia deconstructiva.

La medición del láser Micro interferómetro está muy afectado por la rugosidad de la superficie del cono debido al principio de medición relativa del

Microinterferómetro láser.[3]

CONCLUSION.

Con base a las lecturas consultadas podemos concluir que existen muchas y diferentes formas para medir cosas a escala nanometrica y cada vez más estas técnicas se están integrando a las industrias debido a que el hombre ayudado con la tecnología se está empeñado en fabricar todo a la escala más pequeña posible, entonces estas tienen que ser mediciones muy exactas porque el mínimo error puede afectar por completo algún procedimiento o producto, es por eso que los instrumentos de medición requieren patrones de calibración cada vez más finos y avanzados, además se requiere que haya homogeneidad en la calibración de dichos instrumentos.

REFERENCIAS.

[1] D. Apostol, P. C. Logofatu, and R. Muller, “Nano-metrology between necessity and reality,” in Proceedings of the International Semiconductor Conference, CAS, 2007.

[2] Z. NIU, R. KOBAYASHI, Y. L. CHEN, Y. SHIMIZU, S. ITO, and W. GAO. “Nanometrology of an ultraprecision machined surface by using optical sensors.” in Proceedings of the 16th International Conference on Nanotechnology, Sendai, Japan, August 22-25, 2016

[3] E. F. Mendoza, C. J. Perucho, and A. Plata, “NANOMETROLOGY OF DEFORMATIONS BY TEMPERATURE IN METALLIC MATERIALS.”